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涂鍍層測厚儀性能影響因素

日期:2024-07-21 00:55
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摘要:
涂鍍層測厚儀性能影響因素包括以下一些:
a 基體金屬磁性質(zhì)

  磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準;亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。

  b 基體金屬電性質(zhì)

  基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。

  c 基體金屬厚度

  每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。涂鍍層測厚儀大于這個(gè)厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

  d 邊緣效應

  涂鍍層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

  e 曲率

  試件的曲率對測量有影響。超聲波測厚儀這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

  f 試件的變形

  測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數據。

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